Okrem základných laboratórnych meraní z fyziky vám poúkame nasledovné, asi 30 minút trvajúce demonštrácie zaujímavých fyzikálnych meraní z nášho domovského Ústavu jadrového a fyzikálneho inžinierstva na FEI STU.

V prípade vášho záujmu vám radi predvedieme jednu až dve demonštrácie, podľa vášho výberu a na našich možností, po ukončení meraní študentov v laboratóriach.

 


SiO2 guľôčky nanesené na sklenej podložke. Priemer guľôčok je cca 320 nm (= 0,00032 mm). Guľôčky boli na podložku nanesené do jednej vrstvy. Obrázok bol zosnímaný pomocou atómového silového mikroskopu. Farebná stupnica v pravej časti obrázku označuje výšku v topografii. Veľkosť skenovanej plochy je 10 x 10 µm2. Autor obrázku: Ing. Milan Pavúk, PhD.

 

AFM - Mikroskopia atomárnych síl

Mikroskopia atomárnych síl (AFM = Atomic Force Microscopy) je metóda, ktorá umožňuje skúmať povrchové vlastnosti vzoriek s vysokým priestorovým rozlíšením. Metóda je založená na meraní silovej interakcie pôsobiacej medzi sondou a samotným povrchom skúmanej vzorky. Sondu predstavuje ostrý hrot vyformovaný na konci tenkého, pružného pásika, nazývaného nosník. Materiál sondy je zvyčajne Si. Bežný polomer špičky hrotu je pod 10 nm. AFM mikroskop je možné prevádzkovať aj v režime mikroskopie magnetických síl (MFM = Magnetic Force Microscopy), kedy vhodnými sondami možno sledovať „magnetické domény“ na povrchu vzoriek.

Lektor: Ing. Milan Pavúk, PhD.

Max. počet študentov na jednu demonštráciu: 7 

 


XFS - X-Ray fluorescenčná spektroskopia

Röntgenová fluorescencia je definovaná ako emisia charakteristického sekundárneho (alebo fluorescenčného) röntgenového žiarenia materiálom, ktorého atómy boli excitované bombardovaním vysoko-energetickým röntgenovým alebo gama žiarením.

Nakoľko každý prvok má svoje špecifické energie prislúchajúce jednotlivým prechodom, tj. každý prvok má rozdielne "vzdialené" energetické hladiny, produkuje v procese fluorescencie jedinečný súbor vlnových dĺžok röntgenového žiarenia, na základe ktorého je možné jednoznačne identifikovať prítomnosť daného prvku vo vzorke. Navyše intenzita charakteristického röntgenového žiarenia poskytuje informáciu o koncentračnom zastúpení skúmaného prvku vo vyšetrovanom materiáli. Analytická metóda využívajúca princíp röntgenovej fluorescencie na určovanie zloženia a koncentrácie prvkov v rôznych materiáloch a vzorkách sa nazýva röntgenová fluorescenčná analýza

Lektor: Ing. Katarína Sedláčková, PhD.

 


Radiačná kamera založená na Timepix čipe

Radiačná kamera je zariadenie ktorého hlavná úloha je detekcia a následné stanovenie vlastností dopadajúceho ionizujúceho žiarenia, konkrétne počet dopadajúcich častíc, ich energia, čas dopadu a ich trajektória. Je schopná detegovať všetky v bežnej praxi vyskytujúce sa žiarenia ako ťažké (α) a ľahké (β-) nabité častice, fotóny (RTG, γ) a s použitím vhodnej konverznej vrstvy aj neutróny. Aktívna časť kamery sa skladá z matice 256 × 256 detektorov s rozmerom 55 × 55 µm, teda celková aktívna plocha pokrýva 1,4 cm2. Kamera našla uplatnenie v rôznych sférach priemyslu, medicíny a výskumu, a to najmä ako detektor v digitálnom röntgenovom zobrazovaní, tzv. digitálnej radiografii.

Počas demonštrácie sa študenti oboznámia s princípom fungovania kamery a prakticky si overia ako kamera reaguje na rôzne druhy ionizujúceho žiarenia, konkrétne na α častice a fotóny z rozpadu 241Am a na β- častice (elektróny) z rozpadu 90Sr.

Lektor: Ing. Dávid Kubanda